Microscopía electrónica de barrido (SEM) aplicada a la a caracterización de nanopartículas
A continuación, desarrollamos por qué es importante contar con la mayor exactitud en el monitoreo y caracterización de partículas, y cómo la microscopía electrónica de barrido (SEM) puede ser un valioso método para ello, especialmente por su versatilidad y resolución espacial superior.